东芝电子元件及存储装置株式会社（简称“东芝”）现已推出适用于半导体测试设备的低压光继电器“TLP3450S”

半导体测试设备（ATE：自动测试设备）通过向系统LSI或半导体存储器等被测器件（DUT）的指定引脚施加电压/电流，验证DUT是否正常工作。一些光继电器（MOSFET输出）作为一种固态继电器，用于切换指定引脚的回路。

ATE必须具有高吞吐量，以便同时测量具有大量引脚的多个DUT。因此，其必须具备高速开关功能，以减少开关动作造成的测试时间损失。同时，为满足该需求，还必须研制微型光继电器，从而在有限的电路板空间内实现大量贴装目的。

此外，由于其尺寸小、工作温度高，因此除了ATE应用外，它还是一种可广泛应用于可编程逻辑控制器（PLC）和其它工业设备的半导体开关。

新产品TLP3450S采用小型封装S-VSON4T。我们还改善了红外线LED的光输出性能，并优化光电检测器器件（光电二极管阵列）的设计。因此，新产品的开关时间（导通时间）为80 μs（最大值），仅为现有产品TLP3450的40%。另外，TLP3450S的输出电容更小、导通电阻更低。当输出关断时，输出电容会影响高频信号泄漏；而当输出导通时，导通电阻会影响信号衰减。对于可非常精确且快速地测量DUT的半导体测试设备，TLP3450S适用于这类设备的引脚电子。

产品特点

快速导通时间

输出电容小

小型封装S-VSON4T，适合高密度贴装

1.快速导通时间

在实际应用中，ATE必须在有限的时间内测量带有许多端子的很多DUT。如果光继电器本身的开关时间很慢，DUT测试时间就会更长。本产品的导通时间为80 μs（最大值），仅为现有产品TLP3450的40%。这对系统的整体吞吐量很有帮助。

2.输出电容小

MOSFET的断态输出引脚之间的电容称为输出电容，用COFF表示。当除直流电流外的信号（如脉冲）受控时，且光继电器处于断态的情况下，信号会通过该电容发生泄漏。特别是在ATE中，必须非常精确地测量DUT，但如果COFF较大，这种方法不太可行，因为容易产生泄漏电流。现有产品TLP3450的COFF为0.8 pF（典型值），而本产品达到了0.6 pF（典型值），可以进一步抑制断态情况下的信号泄漏。

3.小型封装S-VSON4T，适合高密度贴装

测试头分为两大类：器件电源（DPS）类和引脚电子（PE）类。ATE使用继电器来切换电源和信号，从而同时测量多个DUT。虽然测试设备高速处理等技术创新并不常见，但对于必须满足低成本和高可靠性要求的半导体测试设备而言，高密度测试板必不可少。现有的机械式继电器无法满足这些要求，半导体继电器（光继电器）可取代它们，从而可在有限的电路板空间内贴装许多光继电器。新型TLP3450S产品采用小型封装S-VSON4T（1.45 mm×2.0 mm（典型值），t＝1.4 mm（最大值）），有助于提高贴装密度。与现有产品TLP3450相比，其封装区域大约减小了18%。

应用设备

PLC模拟接口的应用

半导体测试设备（高速存储器测试设备、高速逻辑测试设备等）

探针卡

各种测量仪器

工业设备

*其还适用于具有多个接口的小型框架应用，例如可编程逻辑控制器（PLC）。

新产品主要规格

（Ta＝25 °C）